不論是在硅片車間，還是在電池車間，硅片隱裂的檢出都是一個難點，人工檢驗或者傳統(tǒng)的光學(xué)檢出無法滿足大量檢測的需求，且檢出率很低。
 機器視覺公司創(chuàng)視新科技全力打造的隱裂檢測模塊，采用定制開發(fā)的特殊光源，配合特殊檢測相機，可快速、準(zhǔn)確檢測出隱裂部位，為人工或自動化分選設(shè)備提供正確的信號。
 創(chuàng)視新科技開發(fā)隱裂檢測模塊可同時適用于單晶及多晶硅片的隱裂檢測，除正確檢出隱裂外，還可同時檢出破片，配合創(chuàng)視孔洞檢測模塊，還可有限檢出硅片孔洞。
 隱裂檢測模塊為標(biāo)準(zhǔn)檢測模塊，可方便的集成入各類硅片分選機中。除此之外，該模塊還可集成在各類清洗上料設(shè)備中，在電池片生產(chǎn)開始前剔除不良品。

 創(chuàng)視隱裂檢測模塊基本參數(shù)：